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所有数字I/O仪器

高速和静态3U和6U PXI和PCI数字I/O仪器。提供测试速率达到200MHz和可编程逻辑电平-10V至+15V，
我们的数字产品是行业内性能最高和性价比最大的数字测试解决方案。

PXIe 3U

新产品！

GX3800e

用户可编程，板载Altera Cyclone V GX FPGA。
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FPGA/FMC PXIe高性能数字I/O板卡

PXIe 3U

GX5292e

32输入/输出通道，动态可配置，基于每通道。
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动态控制，高速数字 I/O PXI Express 板卡

PXI 3U

GX5290系列

32输入/输出通道，动态可配置，基于每通道。
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动态控制，高速数字 I/O PXI板卡

PXI 6U

GX5055

50 MHz 动态数字仪器，每个引脚直接控制。详细>>

动态控制，高速数字 I/O PXI板卡，带引脚电路

PXI 6U

GX5960系列

高电压引脚电路，带每通道可编程和 PMU 引脚。详细>>

高性能50MHz动态数字 I/O PXI 子系统

PXI 3U

GX5280系列

32输入或输出通道。
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动态控制高速数字 I/O PXI 板卡

PXI 3U

GX5295

32输入/输出通道，动态可配置，基于每通道。详细>>

动态数字 I/O含每通道可编程逻辑电平和 PMU的PXI 板卡

PXI 3U

GX5296

每引脚定时，多时间设置和柔性定序器。详细>>

动态数字 I/O 含每通道定时，可编程逻辑电平和 PMU PXI 板卡

PXI 3U

GX5641系列

64双向转换通道或128数字 I/O通道。
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双向差分-TTL I/O PXI 板卡

PXI 3U

GX5642

64双向TTL I/O和LVDS差分 I/O端口每通道。
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双向差分-TTL I/O PXI 板卡

PXI 3U

GX5733

3个32位LVTTL端口，用于总计 96 LVTTL输入或输出通道。
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128 通道数字 I/O 模块化 PXI 板卡

PXI 3U

NX5300

单个插槽，3U格式。
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JTAG/背景调试模式测试系统 PXI 板卡

PXI 3U

TS-900系列

基于 PXI 的集成半导体测试平台。详细>>

PXI 半导体测试系统

PXIe 3U/6U

NX5000系列

支持全速操作被测对象（UUT），无需修改。详细>>

ROM仿真 PXI 板卡

PXI 6U

GX5050

32双向 I/O 引脚（16板卡可菊形链接于总计512引脚）。详细>>

动态控制高速数字 I/O PXI 板卡

PXI 6U

GX5150系列

50MHz 矢量运算率
动态控制。详细>>

高速数字 I/O PXI 板卡

PXI 6U

GX5152系列

32 输入或输出通道。
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数字激励反应 PXI 板卡

PXI 6U

GX5731

4个32位 TTL 端口，用于总计128 TTL 输入或输出通道。详细>>

224 通道数字 I/O 模块化 PXI 板卡

PXI 6U

GX5732

行业内最高密度的PXI数字I/O通道。详细>>

224 TTL 通道，数字 I/O 含 4 计数器的 PXI 板卡

PCI

GC5050

32双向 I/O 引脚（16板卡可菊形连接于总计512引脚）
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动态控制高速数字 I/O PCI 板卡

DIOEasy

图形化矢量开发环境，适用于 GX5050、GX5150、GX5280、GX5290 和 GX5295 动态数字 I/O 产品。详细>>

数字 I/O 矢量开发软件


	DIOEasy培训
DIOEasy 培训（上门或来虹科）

DIOEasy-FIT

导入和转换 STIL 数字矢量（IEEE-1450，标准测试接口语言文件）为我们的数字矢量格式。详细>>

文件导入工具用于导入和转换 STIL、WGL、VCD/EVCD 矢量

DtifEasy系列

从LASAR仿真导入、转换和执行 IEEE-1445 兼容 .tap 文件，配合使用我们的数字硬件和数字功能测试系统。详细>>

LASAR Post 处理器、运行时间和诊断测试解决方案


	DtifEasy培训
4天 DtifEasy 培训（包括 ATEasy）


	GC5910系列
TTL I/O 模块用于 GC5050 板卡


	GC5930
可编程电平 I/O 模块用于 GC5050 板卡


	GC5960
LVDS I/O 模块用于 GC5050 板卡


	GT50-256K
256K 存储器用于 GT50-DIO（以前 GT50-256K-12）


	GT5001
1M 存储器模块用于 50 MHz 的测试


	GT5001-5
1M 存储器模块用于 50 MHz 的测试


	GT5002
2M 存储器模块用于 50 MHz 的测试


	GT5002-5
2M 存储器模块用于 50 MHz 的测试


	GT5004-40
4M 存储器模块用于 40 MHz 的测试


	GT5004-40-5
4M 存储器模块用于 40 MHz 的测试


	GT5006
256K 存储器模块用于 50 MHz 的测试


	GT5006-5
256K 存储器模块用于 50 MHz 测试

GT5910

TTL应用。详细>>

TTL I/O 模块用于 GT5xxx 板卡

GT5920

提高测试速度到 100 MHz。详细>>

100 MHz I/O 模块用于 GT515X & GT5900

GT5930

可编程电平和阈值含三态控制。
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可编程电平 I/O 模块用于 GT5xxx 板卡

GT5940系列

PECL 转 TTL 和 TTL 转 PECL 。
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PECL I/O 模块用于 GT515x 板卡


	GT5960
LVDS I/O 模块用于 GT5xxx 板卡

GtDio6x-FIT

导入和转换 STIL 数字矢量（IEEE-1450，标准测试接口语言文件）为我们的数字矢量格式。详细>>

文件导入工具用于导入和转换 STIL、WGL、 VCD/EVCD、ATP 矢量

GX3501

80 通道、TTL 缓存板用于 GX3500 FPGA 板卡。详细>>

80 通道 TTL 缓存扩展板用于 GX3500

GX3509

80 通道，差分 TTL 缓存板用于 GX3500 FPGA 板卡。详细>>

80 通道差分 TTL 扩展板用于 GX3500

GX3510

80 通道，mLVDS 扩展板卡用于 GX3500 FPGA 板卡。详细>>

80 通道 mLVDS 缓存扩展板用于 GX3500

GX3540

40 输入/输出 ECL 通道。
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40 通道 ECL 扩展板用于 GX3500

GX5001

GX515x 存储器模块、1Mbx32、用于 50MHz测试。

每个 GX515x 使用 2-9 个模块


	GX5001-5
GX515x 存储器模块、1Mbx32、用于 50MHz 测试。每个 GX515x 使用 2-9 个模块


	GX5002
GX515x 存储器模块、2Mbx32、用于 50MHz 测试。每个 GX515x 使用 2-9 个模块


	GX5002-5
GX515x 存储器模块、2Mbx32、用于 50MHz 测试。每个 GX515x 使用 2-9 个模块


	GX5004-40
GX515x 存储器模块、4Mbx32、用于 40MHz 测试。每个 GX515x 使用 2-9 个模块


	GX5004-40-5
GX515x 存储器模块、4Mbx32、用于 40MHz 测试。每个 GX515x 使用 2-9 个模块


	GX5006
GX515x 存储器模块、, 256Kbx32、用于 25/50MHz 测试。每个 GX515x 使用 2-9 个模块


	GX5006-5
GX515x 存储器模块、256Kbx32、用于 25/50MHz 测试。每个 GX515x 使用 2-9 个模块

GX5701

32可编程输入。详细>>

32 通道数字输入锁存器模块用于 GX5731/GX5733

GX5702

32 TTL输出。详细>>

32 通道数字输出锁存器模块用于 GX5731/GX5733

GX5704

32 开路集电极，光耦合输出。详细>>

32 通道数字功率输出锁存器模块用于GX5731/GX5733

GX5709

32 RS-422 (差分) I/O 通道。
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32 通道 RS-422 数字 I/O 模块用于GX5731/GX5733

GX5711

16 双向 LVDS 转 TTL 通道。
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16 通道 LVDS 转 TTL 转换器用于GX5731/GX5733

GX5712

16 通道双向 TTL 转 RS-422 转换器。详细>>

16 通道 RS-422 转 TTL 双向转换器用于 GX5731/GX5733


	GX5910
TTL I/O 模块


	GX5930
可编程电平 I/O 模块


	GX5940
PECL I/O 模块


	GX5960
LVDS I/O 模块

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