• 32路输入输出通道，可以在每个通道上动态配置
• 4个可编程电平的控制/定时通道
• 256MB板载矢量内存
• 每通道驱动/感测电压范围为-2V至+7 V，每个引脚为PMU
• 100 MHz测试速率
• 激励/响应和实时比较模式
• 适用于基于PXI的半导体测试

概述

GX5295采用紧凑型3U PXI外形尺寸提供卓越的数字测试功能和通道密度。提供性能数字和模拟测试功能，GX5295为每个引脚架构提供了具有成本效益的测试仪，使该卡成为高吞吐量混合信号组件测试应用的理想选择。每个数字通道可以单独编程为驱动器，驱动器，感测信号，感测电流和负载值（具有换向电压电平）。 此外，每个通道提供参数测量单元（PMU），为用户提供在DUT（待测设备）上执行并行直流测量的能力。

GX5295支持深度模式存储器，提供256 MB的板载矢量内存，动态每个引脚方向控制，测试速率高达100 MHz。该板支持激励/响应和实时比较操作模式，允许用户最大限度地提高测试吞吐量，以便对需要深度内存测试模式的组件和UUT进行不间断测试。 单板设计支持主和从功能，无需使用附加模块。

GX5295的引脚电子资源在每个通道基础上是独立的，并且包括用于DUT的DC特性的全功能PMU。PMU可以执行强制电压/测试电流或强制电流测试电压的模式。此外，驱动器和接收器可以配置为支持来自/到UUT的差分输入和输出信号。 一种开窗方法用于存储器访问，这将每个板的所需PCI存储器空间限制为仅16 MB，从而保留测试系统资源。还支持直接模式，用于测试系统控制器与GX5295的I / O引脚之间的连续数据传输。

GX5295提供256 MB的矢量内存，每通道64 Mb。可编程I / O宽度允许矢量深度的交易矢量宽度。 在软件控制下，GX5295的向量存储器可以配置为支持32,16,8,4,2和1的通道宽度，对应的矢量深度为64 Mb，128Mb，256 Mb，512 Mb，1024 Mb和2048 Mb。

GX5295提供可编程LVTTL输出时钟和选通，并支持外部时钟和频闪。可编程PLL（锁相环）提供可配置的时钟频率和延迟。 另外，另外4个额外的引脚电子资源可用作定时和/或控制资源—提供从-2到+7V的可编程驱动和感测电平。

GX5295的音序器可以通过整个内存定义的地址或循环停止或暂停，也可以在定义的地址范围或定义的内存块上循环。还支持两种模式的数字测试 - 激励/响应和实时比较模式。 激励/响应模式用于驱动和捕获数据。 或者，对于需要长测试向量的数字测试，实时比较模式可用于通过实时，预期测试结果和仅记录故障向量和合成测试结果（通过或失败）进行比较来显着缩短总体测试时间。

软件

GX5295随DIOEasy一起提供，它提供强大的图形矢量开发/波形显示工具，以及虚拟仪表板，32位DLL驱动程序库和文档。虚拟面板可用于从显示仪器当前设置和状态的窗口交互式地控制和监视仪器。 此外，各种接口文件可以访问仪器的功能库，用于编程工具和语言，如ATEasy，C / C ++，Microsoft VisualBasic®，Delphi和LabVIEW。

可选地，DtifEasy可用于使用GX5295。 DtifEasy提供了一个完整的LASAR后处理器和测试执行环境，用于后处理和执行LASAR生成的.tap文件。

应用

• 自动测试设备（ATE）
• 半导体测试
• 显示器，打印机和磁盘驱动器测试
• ASICs测试
• A/D和D/A测试
• 视频采集/播放应用
• 高速，双向总线测试/仿真