基于RFLE设备在欧洲最大的储存器生产商（英飞凌，ST，赛风，IMEC）的测试上取得的巨大成功，新型高性能的RIFLE-SE系统已经被开发用于单个储存单元，独立或者嵌入式先进的非易失性储存（NAND/NOR标准闪存，多级，双位，PCM）。

RIFLE-SE拥有全新的结构体系，可提供十倍的数字和模拟性能，并添加了新的重要的功能，扩大其应用领域，大大减少了测试时间。

RIFLE-SE拥有改进过的用户界面，完全图形化，只需要点击鼠标即可进行复杂的分析和显示。

应用领域

RIFLE-ES已经被开发了用于深入研究非易失性储存单元和阵列的行为和可靠性。

它的易用性高和易编程性的界面，和一个专用的高性能测试引擎，使用它能用于在比较广泛的应用当中，比如在技术和产品开发，以及在内存设备的生命周期中。

技术和产品开发

单元可靠性研究：

• 单元测试和表征 (IV, Vt)
• 单个单元循环
• 算法实验 (脉冲波形，长度…)

阵列可靠性研究:

• 阵列测试和表征 (分布，映射，子集识别)
• 全部或者部分阵列循环
• 算法实验 (编程与擦除，模拟P/E控制器)

产品调试:

• 功能验证 (阵列 + 接口)
• 产品表征 (分布，映射，子集识别)
• 使用嵌入式控制器来进行全部或者部分阵列循环

产品质检:

• 错误分析
• 互动检测

制造和产品生命周期

过程控制：

• 测试结构的功能性和可靠性分析
• 阵列测试和表征 (分布，映射，子集识别)
• 全部或者部分阵列循环

产品质量控制：

• 产品的功能性和可靠性分析
• 产品表征 (分布图，映射，子集识别)
• 使用嵌入式控制器进行全部或者部分阵列循环

错误分析：

• 得知错误是来自于测试过程还是质量控制过程
• 互动检测

现场回报分析：

• 了解现场应用的故障
• 互动检测